Takara 1000SA là máy phân tích huỳnh quang tia X cho ứng dụng đo kim loại quý và đo độ dày lớp xi mạ.

Takara 1000SA được thiết kế đặc biệt để đáp ứng yêu cầu mới nhất từ các khách hàng khác nhau ở các thị trường khác nhau như: FAST (5s-20s), ACCURATE cho tất cả các loại mẫu (đặc biệt là mẫu vàng miếng cao từ 99,88% đến 99,99%, GIỚI HẠN PHÁT HIỆN THẤP cho tạp chất (<0,01% đối với Ag, Pd và <0,1% đối với các tạp chất khác), phần mềm FP 2 trong 1 (Thành phần và độ dày),...

Phần mềm Nozokari^TM cho ứng dụng đo trang sức là phiên bản mới nhất của chúng tôi là phần mềm 2 trong 1 với rất nhiều tính năng mới và "giải pháp tối ưu" nhằm đáp ứng tất cả các yêu cầu phát sinh trong quá trình sử dụng.

Tính năng:

• Chức năng tự động phát hiện các nguyên tố trong mẫu bất kỳ.
• Chức năng phát hiện và sàng lọc mẫu vàng mạ (vàng giả) thông minh.
• Tự động phát hiện và cảnh báo các nguyên tố có trong vàng giả: W, Os, Ir, Ru, Re, Bi,... (có thể cập nhật các nguyên tố vàng giả có thể xuất hiện trong tương lai).
• Tự động phát hiện và cảnh báo các nguyên tố lạ chưa được cài đặt trong máy, qua đó giúp phép đo chính xác, không bị lên tuổi vàng.

Ứng dụng:

• Đo kim loại quý: Đo tuổi vàng, bạc, bạch kim, paladi,…
• Đo độ dày lớp xi mạ từ 1 lớp đến nhiều lớp (có thể đo lên đến 8 lớp xi mạ).
• Đo kim loại nặng theo chuẩn RoHS.
• Đo thành phần kim loại trong hợp kim.
• Đo thành phần kim loại trong mẫu quặng.